HAST 試驗箱 壓力老化箱 HAST試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能

HAST高溫高濕高壓老化箱 HAST試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能，廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產品作加速老化壽命試驗。

HAST壽命試驗箱 高加速溫度和濕度壓力 HAST 壽命試驗箱，又稱高壓加速老化試驗箱，主要用于評估在濕度環(huán)境下產品或材料的可靠性。在設定的溫度、相對濕度和壓力條件下，將待測樣品暴露于非冷凝的高溫高濕環(huán)境中，以加速其老化過程。通過準確控制試驗箱內的環(huán)境參數，可以在短時間內模擬出產品可能經歷的數十年甚至更長時間的自然老化過程。

PCT高壓加速老化試驗箱 高溫濕度試驗 高溫高壓加速老化測試箱結構形式為立式,試驗箱內箱采用 SUS304 發(fā)紋不銹鋼板,外箱采用拉絲不銹鋼 板美觀大方，溫度控制器為日本富士數顯控制器,PT100 感應器,指針式壓力表,內置式儲水箱.該設備具有超溫、欠相、 缺水、壓力、加熱管空燒等保護裝置。

PCT 高壓加速老化試驗箱 氣壓濕度款 具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工，電子產品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運輸，使用時的適應性試驗。用于產品設計，改進，鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。